Mikroskop Elektron Pemindaian Peluncuran Lapangan Resolusi Ultra Tinggi Seri Regulus
Model-model SU8240, SU8230, SU8220 dan SU8010 yang ada telah diintegrasikan kembali menjadi Regulus 8240, Regulus 8230, Regulus 8220 dan Regulus 8100.
'Seri Regulus' mewarisi kinerja pengamatan dan analisis dari model yang ada dengan senapan elektronik peluncuran medan dingin berisik rendah seri SU8200*1dapat mendapatkan aliran yang stabil.
Dengan mengoptimalkan sistem optik elektronik, Regulus 8240/8230/8220 meningkatkan resolusi hingga 0,7 nm dalam kondisi 1 kV dan Regulus 8100 meningkatkan resolusi hingga 0,8 nm.
Selain itu, untuk memanfaatkan sepenuhnya kemampuan resolusi ultra tinggi, tingkat pembesaran juga meningkat dari 1 juta kali menjadi 2 juta kali.*1Itu.
Regulus 8240/8230/8220/8100 juga menyempurnakan dukungan pengguna yang memudahkan pengguna memahami prinsip deteksi berbagai sinyal yang rumit dan membantu pengguna memanfaatkan kinerja optimal instrumen.
- *1
- Hanya untuk Regulus 8240/8230/8220
-
Fitur
-
Spesifikasi
Fitur
- Senjata elektronik melemparkan medan dingin dengan seri 'SU8200'*2
- Menggunakan area stabil kecerahan tinggi yang muncul setelah Flashing sebagai interval pengamatan yang stabil, memungkinkan kinerja terbaik untuk pengamatan dan analisis resolusi tinggi dalam kondisi tegangan akselerasi rendah
(Regulus8240/8230/8220: 0.7 nm/1 kV、Regulus8100: 0.8 nm/1 kV) - Penggunaan penyimpanan sampel vakum tinggi dan polusi kecil
- Menggunakan filter energi (opsional), dapat mengamati berbagai komponen kontras*2
Pengamatan resolusi tinggi pada tegangan pendaratan yang sangat rendah
Contoh: partikel emas
Tegangan pendaratan: 10 V
Pengamatan resolusi tinggi
Contoh: Pt katalis
Tegangan akselerasi: 30 kV
Analisis EDX resolusi tinggi pada tegangan akselerasi rendah
Contoh: Bola Sn
Tegangan pendaratan: 1,5 kV
- *2
- Hanya untuk Regulus 8240/8230/8220
Spesifikasi
Proyek | Regulus 8100 | Regulus 8220 | Regulus 8230 | Regulus 8240 | |||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Resolusi Elektronik Kedua | 0.7 nm (tegangan akselerasi 15 kV) 0.8 nm (tegangan pendaratan 1 kV)*3 |
0,6 nm (tegangan akselerasi 15 kV) 0,7 nm (tegangan pendaratan 1 kV)*3 |
|||||
Tegangan pendaratan | 0.1~2 kV | 0.01~20 kV | |||||
Membesarkan | 20 ~ 1.000.000 kali*4 | 20 ~ 2.000.000 kali*4 | |||||
Meja sampel | Kontrol sampel | Motor 3 sumbu (motor 5 sumbu opsional) | 5 sumbu motor drive | ||||
Rentang Pindah | X | 0~50 mm | 0~50 mm | 0~110 mm | 0~110 mm | ||
Y | 0~50 mm | 0~50 mm | 0~110 mm | 0~80 mm | |||
R | 360° | ||||||
T | -5~70° | ||||||
Z | 1.5~30 mm | 1.5~40 mm | |||||
Reproduksi | - | - | - | ± 0,5 µm yang lebih rendah dari ± 0,5 µm |
- *3
- Melihat dalam Mode Perlambatan
- *4
- Pengukuran berdasarkan film 127 mm × 95 mm
Kategori Produk Terkait
- Sistem balok ion fokus (FIB/FIB-SEM)
- Perangkat pra-pemrosesan sampel TEM/SEM